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      低價格硅片測溫專用型DT40P , 300~1300°C ,3.43μm

      規格:DT40P , 300~1400°C ,3.43μm

      單位:

      瀏覽次數:4127

      性能標簽:

      低價格 ,半導體制造硅片測溫專用型DT40P , 300~1300°C ,400~1400°C ,3.43μm ;此型號還適合于聚丁烯、聚苯乙烯、聚亞胺酯、乙烯基、尼龍類塑料薄膜



      產品詳細描述


       

      半導體制造硅片測溫專用型DT40P


      測溫范圍:300~1300°C ,400~1400°C


      波長:3.43μm

       

       

      主要應用:

       

      1) 半導體制造硅片測溫


      2) 塑料薄膜(聚丁烯、聚苯乙烯、聚亞胺酯、乙烯基、尼龍)

       

       

       性能指標

       

      型號 DT40P
      測溫范圍 300~1300°C
      400~1400°C *
      主要用途 半導體生產硅片測溫,聚丁烯、聚苯乙烯、聚亞胺酯、乙烯基、尼龍類塑料薄膜
      光譜范圍 3.43µm
      光學系數 300,800,1200
      距離系數 50:1
      測量誤差1 1.0%測量值或1 K
      重復精度1 0.5%測量值或0.5 K 
      NETD2 0.1°C
      響應時間(t95) 150ms, 可調達100 s
      發射率 0.200~1.000
      瞄準 *標注的為無瞄準(可選外置激光瞄準燈), *標注的可選內置LED瞄準燈
      可調參數 發射率, 響應時間, 溫度單位°C°F, 存儲方式, 子測溫范圍, 可通過USB通信接口和軟件調整
      供貨范圍 DT40P,操作手冊,安裝螺母,檢測單,Windows®PYROSOFT Spot,連接電纜需單獨訂貨
      1經過黑體爐標定, Tamb=23°C, ε=1, t95=1s, 取最大值 2噪聲等溫差.  3  *可選內置LED瞄準.  

       

       

       

      半導體硅片測溫 , 紅外測溫儀DT40P

       

       

       

       

      高精度硅片測溫、塑料薄膜紅外測溫儀DY10P

       

       

       

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